簡介:咨詢發(fā)光二極管檢測服務(wù),上百檢網(wǎng)。我們會為您安排發(fā)光二極管檢測工程師對接,溝通發(fā)光二極管檢測項目、標準、周期等,待方案確認后,即可開始樣品檢測,出具發(fā)光二極管檢測報告真實有效,常規(guī)周期在3-15個工作日,特殊項目需在方案制定時詳細確認,歡迎咨詢。
發(fā)布時間:2024-04-10
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手機聯(lián)系: 185-0176-3637
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檢測樣品:紡織品、化妝品、食品、農(nóng)產(chǎn)品、絕緣工具、五金件等
報告資質(zhì):CNAS/CMA/CAL
報告周期:常規(guī)3-15個工作日,特殊樣品、檢測項目除外。
檢測費用:根據(jù)檢測項目收費,詳情請咨詢百檢網(wǎng)。
光通維持率,LED平均光強測量,光通量測量(積分光度法),光電及色度特性,尺寸,極限值(絕對最大額定值體系),標志,K系數(shù),主波長和顏色刺激純度,人體模式靜電放電敏感性,光通量和光通量效率,半強度角和角偏差(θ1/2),峰值發(fā)射波長(λp)、光譜帶寬和光譜功率分布,平均LED強度,開關(guān)時間,總電容,機器模式靜電放電敏感性,機械資料(安裝和焊接條件),熱阻,電壓參數(shù),電流參數(shù),白光器件的顯色指數(shù),白光器件色溫或相關(guān)色溫,結(jié)溫,色品坐標,色差,輻射功率和輻射效率,高發(fā)光效率器件的熱阻,反向電壓,反向電流,正向電壓,X射線照相,主波長,光譜范圍,光通量,內(nèi)部檢查,反向漏電流,發(fā)光強度,發(fā)光指向角,外觀檢查,尺寸測量,峰值波長,掃描電子顯微技術(shù)和電子束顯微分析,探針測試,橫截面,正向?qū)妷?光譜輻射帶寬Δλ,光通量維持壽命,半強度角θ1/2,反向電流IR,發(fā)光強度Iv(平均LED強度),峰值發(fā)射波長λP,總光通量,顯色指數(shù)(Ra),正向電壓VF,相關(guān)色溫,角偏差,輻射效率,輻射通量,顏色刺激純度,發(fā)光強度Iv (平均LED強度),峰值 發(fā)射 波長 λp,LED器件平均發(fā)光強度,色度學參數(shù),光譜分布及其特性參數(shù),半強度角,光通量效率,光譜功率分布
1、通過網(wǎng)站聯(lián)系方式與客服進行溝通
2、確認需求后,推薦并制訂方案,隨后進行報價
3、確認方案及報價后,安排樣品郵寄至指定實驗室進行檢測
4、樣品寄送到實驗室后,等待實驗室檢測結(jié)果
5、實驗室檢測完畢后出具相應(yīng)報告,如需紙質(zhì)報告則安排郵寄
在辦理期間如需加急,需要及時溝通并安排加急服務(wù)
1、IES LM-80-08 LED光源光通維持率的測量
2、SJ/T 11394-2009 半導(dǎo)體發(fā)光二極管測試方法 5.6.2
3、GB/T 15651-1995 半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路 第5部分:光電子器件 GB/T15651-1995(IEC 60747-5:1997)
4、GB/T 18904.3-2002 半導(dǎo)體器件第12-3部分:光電子器件顯示用發(fā)光二極管空白詳細規(guī)范 8
5、GB/T15651-1995(IEC 60747-5:1997) 半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路 第5部分:光電子器件 Ⅲ-7.3
6、IEC 60747-5-3-2009 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第5-7部分:光電子器 3.3
7、GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 方法 5003-3.1.4、3.2.7
8、GB/T 12565-1990 《半導(dǎo)體器件 光電子器件分規(guī)范》 附錄D
9、GB/T 15651.3-2003 半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5-3部分:光電子器件測試方法 GB/T 15651.3-2003
10、 JESD22-B101C-2015 外觀檢查
11、GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 方法5003 3.4 e)
12、JB/T 10875-2008 發(fā)光二極管光學性能測試方法
13、SJ/T 11393-2009 《半導(dǎo)體光電子器件 功率發(fā)光二極管空白詳細規(guī)范》 SJ/T 11393-2009
14、SJ/T 11400-2009 《半導(dǎo)體光電子器件 小功率發(fā)光二極管空白詳細規(guī)范》 5
15、GB/T 12565-1990 《半導(dǎo)體器件 光電子器件分規(guī)范》 GB/T 12565-1990
16、QB/T 4057-2010 普通照明用發(fā)光二極管 性能要求
17、GB/T 18904.3-2002 半導(dǎo)體器件第12-3部分:光電子器件顯示用發(fā)光二極管空白詳細規(guī)范 GB/T 18904.3-2002
18、GB/T 15651.3-2003 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第5-3部分:光電子器件測試方法 3.3
19、GJB 4027A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 1003-2.3
20、IEC 60747-3-2013 半導(dǎo)體器件分立器件 -第3部分:分立器件:信號,開關(guān)和整流二極管 6.2.2
1、公司內(nèi)部產(chǎn)品研發(fā)使用。
2、改善產(chǎn)品質(zhì)量。
3、工業(yè)問題診斷。
4、銷售使用(商超、電商、投標等)。
5、高??蒲姓撐臄?shù)據(jù)使用。
關(guān)于發(fā)光二極管檢測檢測內(nèi)容就介紹到這里。百檢第三方機構(gòu)檢測服務(wù)包括食品、家居、母嬰、玩具、箱包、環(huán)境、發(fā)電機、材料成分分析、化妝品、紡織品、日化品、農(nóng)產(chǎn)品等多項領(lǐng)域檢測服務(wù),歡迎咨詢。
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