咨詢半導體分立器件發(fā)光二極管測試服務，上百檢網(wǎng)。我們會為您安排半導體分立器件發(fā)光二極管測試工程師對接，溝通半導體分立器件發(fā)光二極管測試項目、標準、周期等，待方案確認后，即可開始樣品檢測，出具半導體分立器件發(fā)光二極管測試報告真實有效，常規(guī)周期在3-15個工作日，特殊項目需在方案制定時詳細確認，歡迎咨詢。

檢測費用：電議

檢測周期：常規(guī)3-15個工作日，特殊情況除外。

報告資質：CMA、CNAS等

報告樣式：中英文、紙質版、電子版。

半導體分立器件發(fā)光二極管測試項目：

不工作器件,反向電流,發(fā)光強度,可焊性,外部目檢,尺寸,峰值發(fā)射波長,引出端強度,機械沖擊或振動,正向電壓,溫度變化,溫度快速變化繼之以濕熱循環(huán),電耐久性,穩(wěn)態(tài)濕熱,耐焊接熱,輻射圖,半強度角

半導體分立器件發(fā)光二極管測試流程：

1、通過網(wǎng)站聯(lián)系方式與客服進行溝通

2、確認需求后，推薦并制訂方案，隨后進行報價

3、確認方案及報價后，安排樣品郵寄至指定實驗室進行檢測

4、樣品寄送到實驗室后，等待實驗室檢測結果

5、實驗室檢測完畢后出具相應報告，如需紙質報告則安排郵寄

在辦理期間如需加急，需要及時溝通并安排加急服務

半導體分立器件發(fā)光二極管測試標準：

1、GB/T 4937-1995 半導體器件 機械和氣候試驗方法 GB/T 4937-1995

2、GB/T 6571-1995 半導體器件 分立器件 第3部分：信號(包括開關)和調整二極管 GB/T 6571-1995

3、GB/T 15651.3-2003 半導體分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件測試方法 3.1

4、GB/T 4589.1-2006IEC 60747-10:1991 半導體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范 4.3.1.1

5、GB/T 4589.1-2006IEC 60747-10:1991 半導體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范 GB/T 4589.1-2006IEC 60747-10:1991

6、GB/T 2423.22-2012 IEC 60068-2-14:2009 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化 8

7、GB/T 2423.22-2012 IEC 60068-2-14:2009 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化 GB/T 2423.22-2012 IEC 60068-2-14:2009

8、GB/T 4937-1995 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第Ⅱ篇 2.1

9、GB/T 6571-1995 半導體器件 分立器件 第3部分：信號(包括開關)和調整二極管 第Ⅳ章 第1節(jié) 2

10、GB/T 12565-1990 半導體器件 光電子器件分規(guī)范 GB/T 12565-1990

11、GB/T 12565-1990 半導體器件 光電子器件分規(guī)范 3.4.1

12、GB/T 15651.3-2003 半導體分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件測試方法 GB/T 15651.3-2003

半導體分立器件發(fā)光二極管測試報告有什么用？

產(chǎn)品檢測報告主要反映了產(chǎn)品各項指標是否達到標準中的合格要求，能夠為企業(yè)產(chǎn)品研發(fā)、投標、電商平臺上架、商超入駐、學?？蒲刑峁┛陀^的參考。

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