簡介:咨詢場效應(yīng)晶體管試驗服務(wù),上百檢網(wǎng)。我們會為您安排場效應(yīng)晶體管試驗工程師對接,溝通場效應(yīng)晶體管試驗項目、標準、周期等,待方案確認后,即可開始樣品檢測,出具場效應(yīng)晶體管試驗報告真實有效,常規(guī)周期在3-15個工作日,特殊項目需在方案制定時詳細確認,歡迎咨詢。
發(fā)布時間:2024-08-21
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檢測周期:常規(guī)3-15個工作日,特殊樣品除外,在可行范圍內(nèi)可安排加急。
報告樣式:紙質(zhì)、電子版、中英文均可。
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2、與工程師對接,確認方案報價。
3、簽訂合同,寄樣檢測。
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1、GB/T 6219-1998 半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分:場效應(yīng)晶體管 第一篇 1GHz、5W以下的單柵場效應(yīng)晶體管 空白詳細規(guī)范 8 表1 A1
2、GB/T4586-1994 半導(dǎo)體器件第8部分 場效應(yīng)晶體管 Ⅳ.6
3、GB/T4586-1994 半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分:場效應(yīng)晶體管 第Ⅳ章2
4、GB/T 4586-1994 半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分:場效應(yīng)晶體管 第Ⅳ章6
5、GB/T 4586-94(IEC 60747-8:1984) 半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分:場效應(yīng)晶體管 第Ⅲ章3.1.11
6、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 方法3407
7、GB/T 6571-1995 半導(dǎo)體器件分立器件第3部分:信號(包括開關(guān))和調(diào)整二極管 第Ⅳ章第1節(jié)2
8、GB/T 4589.1-2006 半導(dǎo)體器件 第10部分 分立器件和集成電路總規(guī)范 4
9、IEC 60747-8 Ed. 3.0 b:2010 半導(dǎo)體器件-分立器件-第8部分: 場效應(yīng)晶體管 6.3.5
10、GB/T 4586-1994/IEC 747-8-1984 半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分:場效應(yīng)晶體管 第IV章 2
11、IEC 60747-8-2010 半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分:場效應(yīng)晶體管 6.3.3
12、IEC 60747-8 (Edition 3.0 2010-12) 半導(dǎo)體器件.分立器件.第8部分:場效應(yīng)晶體管 6.3.2
13、GJB128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 1039/2.1.1
14、IEC 60747-8 Ed. 3.0 :2010 半導(dǎo)體器件-分立器件-第8部分: 場效應(yīng)晶體管 6.2.1.1
1、對產(chǎn)品做及時改進,保證出廠產(chǎn)品的品質(zhì)和安全性。
2、證明產(chǎn)品符合相關(guān)標準(國標、行標、企標、團標、外標等),提高產(chǎn)品競爭力。
3、檢測產(chǎn)品是否符合環(huán)保標準要求,是否具有有毒有害成分。
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