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報(bào)告樣式:中英文均可
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1、GJB 4027A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 工作項(xiàng)目 0702
2、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548B-2005
3、GJB1515A-2001 《固體繼電器總規(guī)范》 4.7.6
4、GB/T 14048.5-2017 低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備 第5-1部分:控制電路電器和開關(guān)元件 機(jī)電式控制電路電器 8.4.2.6
5、GJB1515B-2017 固體繼電器總規(guī)范 方法 4.7.7.2.4
6、GJB 4027A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB 4027A-2006
7、QJ 2289-92 固體繼電器測(cè)試方法 5.12
8、GJB 1515A-2001 《固體繼電器總規(guī)范》 4.7.7.6
9、QJ 2289-1992 固體繼電器測(cè)試方法 5.9
10、GJB 1515B-2017 固體繼電器通用規(guī)范 4.7.7.14
11、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法 2013、2017
12、GJB 1515B-2017 固體繼電器通用規(guī)范 GJB 1515B-2017
13、GB/T 14048.1-2012 低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備 第1部分:總則 8.2.4
1、公司內(nèi)部產(chǎn)品研發(fā)使用。
2、改善產(chǎn)品質(zhì)量。
3、工業(yè)問題診斷。
4、銷售使用(商超、電商、投標(biāo)等)。
5、高??蒲姓撐臄?shù)據(jù)使用。
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