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簡介:咨詢X射線檢查檢測服務(wù),上百檢網(wǎng)。我們會為您安排X射線檢查檢測工程師對接,溝通X射線檢查檢測項(xiàng)目、標(biāo)準(zhǔn)、周期等,待方案確認(rèn)后,即可開始樣品檢測,出具X射線檢查檢測報(bào)告真實(shí)有效,常規(guī)周期在3-15個(gè)工作日,特殊項(xiàng)目需在方案制定時(shí)詳細(xì)確認(rèn),歡迎咨詢。
發(fā)布時(shí)間:2024-08-05
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報(bào)告資質(zhì):CNAS、CMA、CAL
報(bào)告樣式:中英文均可
報(bào)告周期:常規(guī)3-15個(gè)工作日,特殊樣品項(xiàng)目除外。
X射線檢查,空氣比釋動能率,X射線球管組裝體泄漏輻射水平,安裝檢查系統(tǒng)的房間外的輻射水平,操作位置的工作場所散射輻射水平,移動檢查現(xiàn)場外的輻射水平,工作場所放射防護(hù),X、γ輻射劑量率,操作位置的散射輻射水平,安裝檢查場所外輻射水平,泄露輻射水平安全檢查,散射輻射水平安全檢查,場外輻射水平,移動檢查現(xiàn)場外的輻射水平檢測,操作位置的工作場所散射輻射水平檢測,安裝檢查系統(tǒng)的房間外的輻射水平檢測
1、確認(rèn)樣品和需求
2、制定方案
3、報(bào)價(jià)
4、雙方確定,簽訂保密協(xié)議,開始實(shí)驗(yàn)
5、3-15個(gè)工作日(特殊樣品除外)完成實(shí)驗(yàn)
6、出具檢測報(bào)告,后期服務(wù)。
1、MIL-STD-1580B 電氣、電子和機(jī)電元器件破壞性物理分析方法
2、GBZ 117-2006 便攜式X射線檢查系統(tǒng)放射衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn) GBZ 117-2006
3、GBZ 177-2006 便攜式X射線檢查系統(tǒng)放射衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn) 1~5
4、PEM-INST-001 塑封微電路選擇、篩選及鑒定程序 方法5.3.2
5、GJB128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 2076
6、GBZ177-2006 便攜式X射線檢查系統(tǒng)放射衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)
7、MIL-STD-883K 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法2012
8、GJB548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序2012.1
9、MIL-STD-750F 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法和程序 方法2076
銷售:出具檢測報(bào)告,提成產(chǎn)品競爭力。
研發(fā):縮短研發(fā)周期,降低研發(fā)成本。
質(zhì)量:判定原料質(zhì)量,減少生產(chǎn)風(fēng)險(xiǎn)。
診斷:找出問題根源,改善產(chǎn)品質(zhì)量。
科研:定制完整方案,提供原始數(shù)據(jù)。
競標(biāo):報(bào)告認(rèn)可度高,提高競標(biāo)成功率。
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