咨詢CMOS電路檢測服務，上百檢網(wǎng)。我們會為您安排CMOS電路檢測工程師對接，溝通CMOS電路檢測項目、標準、周期等，待方案確認后，即可開始樣品檢測，出具CMOS電路檢測報告真實有效，常規(guī)周期在3-15個工作日，特殊項目需在方案制定時詳細確認，歡迎咨詢。

檢測周期：常規(guī)3-15個工作日，特殊樣品除外，在可行范圍內可安排加急。

報告樣式：紙質、電子版、中英文均可。

CMOS電路檢測項目：

電源電流,輸入低電平電壓,輸入低電平電流,輸入鉗位電壓,輸入高電平電壓,輸入高電平電流,輸出低電平電壓,輸出低電平電流,輸出高電平電壓,輸出高電平電流,輸出高阻態(tài)時低電平電流,輸出高阻態(tài)時高電平電流,輸入低電平電流IIL,輸入高電平電流IIH,輸出低電平電壓VOL,輸出高電平電壓VOH,輸出高阻態(tài)電流IOZ,靜態(tài)條件下的電源電流IDD,功能測試,輸出短路電流,傳輸時間,功能,動態(tài)條件下的總電源電流,延遲時間和轉換時間,輸入閾值電壓和滯后電壓,輸入高電平電流和輸入低電平電流,輸出高電平電壓和輸出低電平電壓,輸出高阻態(tài)電流,靜態(tài)條件下的電源電流,輸入鉗位電壓VIK,輸出低電平電壓VOL,輸出低電平電流IOL,輸出短路電流IOS,輸出高電平電壓VOH,輸出高電平電流IOH,輸出高阻態(tài)電流IOZ,靜態(tài)條件下的電源電流ICC,輸入鉗位電壓 VIK,輸入高電平電壓VIH,輸入低電平電壓VIL,電源電流IDD,電源電流IDD,輸入低電平電壓VIL,輸入低電平電流IIL,輸入鉗位電壓 VIK,輸入高電平電壓VIH,輸入高電平電流IIH,輸出由低電平到高電平傳輸延遲時間tPLH,輸出由高電平到低電平傳輸延遲時間tPHL,輸出高電平電壓VOH,輸出低阻態(tài)時低電平電流IOZL,輸出高阻態(tài)時高電平電流IOZH,輸出高阻態(tài)時低電平電流IOZL,輸入出低電平電壓VIL,密封,恒定加速度,溫度循環(huán),穩(wěn)定性烘焙,粒子碰撞噪聲檢測試驗,老煉試驗

CMOS電路檢測流程：

1、咨詢工程師，提交檢測需求。

2、送樣/郵遞樣品。

3、免費初檢，進行報價。

4、簽訂合同和保密協(xié)議。

5、進行方案定制、實驗。

6、出具實驗結果和檢測報告。

CMOS電路檢測標準：

1、GJB548B--2005 微電子器件試驗方法和程序 第4.5節(jié) 方法5005.2

2、SJ/T 10741-2000 半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

3、GB/T 17574-1998 半導體器件 集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998

4、GB/T 17574-1998 半導體集成電路 第2部分 數(shù)字集成電路 第IV篇第3節(jié)第4.1.2條

5、SJ/T10741-2000 半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 第5.15條

6、GB/T17574-1998方 半導體器件集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路第IV篇 方法38

7、SJ/T10741-2000/ 半導體器件集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 5.15

8、GB/T17574-1998 半導體器件集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路第IV篇 方法37

9、GJB548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 方法 1014.2

10、GB/T17574-1998 半導體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路 第IV篇第2節(jié)2

11、SJ/T 10741-2000 半導體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理

CMOS電路檢測報告有什么用？

1、項目招投標：出具第三方CMA/CNAS資質報告;

2、上線電商平臺入駐：質檢報告各大電商平臺認可;

3、用作銷售報告：出具真實有效的檢測報告，讓消費者更放心;

4、論文及科研：提供專業(yè)的個性化檢測需求;

5、司法服務：提供科學、公正、準確的檢測數(shù)據(jù);

6、工業(yè)問題診斷：驗證工業(yè)生產(chǎn)環(huán)節(jié)問題排查和修正;

關于CMOS電路檢測檢測內容就介紹到這里。做檢測，上百檢，百檢網(wǎng)期待與您的合作。