咨詢半導體分立器件篩選測試服務，上百檢網。我們會為您安排半導體分立器件篩選測試工程師對接，溝通半導體分立器件篩選測試項目、標準、周期等，待方案確認后，即可開始樣品檢測，出具半導體分立器件篩選測試報告真實有效，常規(guī)周期在3-15個工作日，特殊項目需在方案制定時詳細確認，歡迎咨詢。

檢測周期：常規(guī)3-15個工作日，特殊樣品除外，在可行范圍內可安排加急。

報告樣式：紙質、電子版、中英文均可。

半導體分立器件篩選測試項目：

低溫測試,密封-粗檢漏,密封-細檢漏,溫度循環(huán),老煉,高溫反偏,高溫測試,密封性檢測,老煉試驗,高溫壽命（非工作）,外觀及機械檢驗,穩(wěn)態(tài)工作壽命,老煉和壽命試驗（IGBT),老煉（二極管、整流管、穩(wěn)壓管）,老煉（晶體管）,老煉（閘流晶體管）,芯片目檢（半導體二極管）,高溫壽命,外觀及機械檢查,密封

半導體分立器件篩選測試流程：

1、咨詢工程師，提交檢測需求。

2、送樣/郵遞樣品。

3、免費初檢，進行報價。

4、簽訂合同和保密協(xié)議。

5、進行方案定制、實驗。

6、出具實驗結果和檢測報告。

半導體分立器件篩選測試標準：

1、GJB128A-1997 半導體分立器件試驗方法 方法1071

2、GJB 128A-97 半導體分立器件試驗方法 GJB128A-97

3、GJB128A-97 半導體分立器件試驗方法

4、GJB 128A-1997 半導體分立器件試驗方法 GJB128A-1997

5、GJB548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 方法5004.2

半導體分立器件篩選測試報告有什么用？

1、項目招投標：CMA/CNAS資質報告;

2、上線電商平臺入駐：質檢報告各大電商平臺認可;

3、用作銷售報告：出具具有法律效應的檢測報告，讓消費者更放心;

4、論文及科研：提供專業(yè)的個性化檢測需求;

5、司法服務：提供科學、公正、準確的檢測數(shù)據(jù);

6、工業(yè)問題診斷：驗證工業(yè)生產環(huán)節(jié)問題排查和修正;

關于半導體分立器件篩選測試檢測內容就介紹到這里。后續(xù)會安排對應工程師對接,百檢第三方檢測機構歡迎您的咨詢，期待與您合作。