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簡(jiǎn)介:微波天線檢驗(yàn)在哪做?百檢網(wǎng)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)可提供微波天線檢驗(yàn)服務(wù),工程師一對(duì)一服務(wù),根據(jù)微波天線檢驗(yàn)需求制定方案,安排實(shí)驗(yàn)室寄樣檢測(cè),常規(guī)檢測(cè)項(xiàng)目在3-15個(gè)工作日內(nèi)完成并出具微波天線檢驗(yàn)報(bào)告,歡迎咨詢。
發(fā)布時(shí)間:2024-07-24
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微波天線檢驗(yàn)在哪做?百檢網(wǎng)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)可提供微波天線檢驗(yàn)服務(wù),工程師一對(duì)一服務(wù),根據(jù)微波天線檢驗(yàn)需求制定方案,安排實(shí)驗(yàn)室寄樣檢測(cè),常規(guī)檢測(cè)項(xiàng)目在3-15個(gè)工作日內(nèi)完成并出具微波天線檢驗(yàn)報(bào)告,歡迎咨詢。
檢測(cè)樣品:紡織品、化妝品、食品、農(nóng)產(chǎn)品、絕緣工具、五金件等
報(bào)告資質(zhì):CNAS/CMA/CAL
報(bào)告周期:常規(guī)3-15個(gè)工作日,特殊樣品、檢測(cè)項(xiàng)目除外。
檢測(cè)費(fèi)用:根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目收費(fèi),詳情請(qǐng)咨詢百檢網(wǎng)。
功率增益和方向性,極化,電壓駐波比,相位,增益測(cè)量,方向圖測(cè)量,極化測(cè)量,增益,方向圖,幅度方向圖,相位中心,軸比,波束指向,靜區(qū)反射率電平,微波(天線暗室、OTA暗室)暗室檢定校準(zhǔn)
1、致電131-4818-0553咨詢百檢客服,確認(rèn)樣品及需求。
2、客服安排工程師對(duì)接,根據(jù)需求制定檢測(cè)方案。
3、確認(rèn)方案、報(bào)價(jià)后簽訂合同,安排寄樣檢測(cè)。
4、實(shí)驗(yàn)室根據(jù)需求,對(duì)樣品開(kāi)展檢測(cè)工作。
5、檢測(cè)結(jié)束,出具樣品檢測(cè)報(bào)告。
6、如需加急請(qǐng)?zhí)崆芭c工程師或客服進(jìn)行溝通。
1、GJB 3071A-2019 雷達(dá)天線分系統(tǒng)性能測(cè)試方法 GJB3071A-2019
2、SJ20884-2003 相控陣天線測(cè)試方法 5.2.1等高架遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試,5.2.3近場(chǎng)測(cè)試
3、IEEE Std 149TM-1979(R2008) 天線的IEEE標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程序 /4.3
4、GJB 3262-1998/ 雷達(dá)天線分系統(tǒng)性能測(cè)試方法 增益 方法101、方法102
5、GJB 6780-2009 靜區(qū)反射率電平
6、GJB 3071A-2019 雷達(dá)天線分系統(tǒng)性能測(cè)試方法 極化 波束指向 收發(fā)隔離 GJB 3071A-2019/
7、GJB 3310-1998 雷達(dá)天線分系統(tǒng)性能測(cè)試方法 方向圖 GJB 3310-1998/
8、IEEE Std 149TM-1979(R2008)/ 天線的IEEE標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程序 12.2
9、GJB 3071-1997 雷達(dá)天線分系統(tǒng)性能測(cè)試方法 極化、波束指向、收發(fā)隔離 GJB 3071-1997
10、IEEE Std 149-1979 天線測(cè)試方法 IEEE Std 149-1979 (R2008)
11、IEEE Std 149TM-1979 天線的IEEE標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程序 IEEE Std 149TM-1979(R2008)/
12、GJB 3262-1998 雷達(dá)天線分系統(tǒng)性能測(cè)試方法 增益 GJB 3262-1998/
13、GJB 3310-1998/ 雷達(dá)天線分系統(tǒng)性能測(cè)試方法 方向圖 方法101
14、GB/T 9410-2008 移動(dòng)通信天線通用技術(shù)規(guī)范 5.3.3
15、IEEE Std 149-1979 (R2008) 天線測(cè)試方法 12
16、GJB3071A-2019 雷達(dá)天線分系統(tǒng)性能測(cè)試方法 6.3.1 遠(yuǎn)場(chǎng)比較法 6.3.2 遠(yuǎn)場(chǎng)合成法 6.3.3 近場(chǎng)比較法
17、GJB6780 微波暗室性能測(cè)量方法
18、SJ 20884-2003 相控陣天線測(cè)試方法 SJ20884-2003
19、GB/T9410-2008 移動(dòng)通信天線通用技術(shù)規(guī)范 5.3.3 天線增益的測(cè)量
20、GJB 3310-1998 雷達(dá)天線分系統(tǒng)性能測(cè)試方法 方向圖
銷(xiāo)售:出具檢測(cè)報(bào)告,提成產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力。
研發(fā):縮短研發(fā)周期,降低研發(fā)成本。
質(zhì)量:判定原料質(zhì)量,減少生產(chǎn)風(fēng)險(xiǎn)。
診斷:找出問(wèn)題根源,改善產(chǎn)品質(zhì)量。
科研:定制完整方案,提供原始數(shù)據(jù)。
競(jìng)標(biāo):報(bào)告認(rèn)可度高,提高競(jìng)標(biāo)成功率。
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