簡介:在找鍵合強度檢驗機構(gòu)?百檢網(wǎng)為您提供鍵合強度檢驗服務(wù),專業(yè)工程師對接確認(rèn)項目、標(biāo)準(zhǔn)后制定方案,包括鍵合強度檢驗周期、報價、樣品等,確認(rèn)無誤后安排寄樣檢測,鍵合強度檢驗常規(guī)周期3-15個工作日,歡迎咨詢。
發(fā)布時間:2024-07-18
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在找鍵合強度檢驗機構(gòu)?百檢網(wǎng)為您提供鍵合強度檢驗服務(wù),專業(yè)工程師對接確認(rèn)項目、標(biāo)準(zhǔn)后制定方案,包括鍵合強度檢驗周期、報價、樣品等,確認(rèn)無誤后安排寄樣檢測,鍵合強度檢驗常規(guī)周期3-15個工作日,歡迎咨詢。
報告資質(zhì):CNAS、CMA、CAL
報告樣式:中英文均可
報告周期:常規(guī)3-15個工作日,特殊樣品項目除外。
鍵合強度,芯片剪切強度,物理尺寸,引出端強度
1、電話溝通、確認(rèn)需求;
2、推薦方案、確認(rèn)報價;
3、郵寄樣品、安排檢測;
4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋;
5、出具報告、售后服務(wù);
6、如需加急、優(yōu)先處理;
1、GJB 360A-1996 《電子及電氣元件試驗方法》
2、MIL-STD-1580B 電氣、電子和機電元器件破壞性物理分析方法
3、PEM-INST-001 塑封微電路選擇、篩選及鑒定程序 方法5.3.6
4、GJB128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 2037
5、GJB 128A-1997 《半導(dǎo)體分立器件試驗方法》
6、MIL-STD-883K 微電子器件試驗方法和程序 方法2011
7、GJB 360B-2009 《電子及電氣元件試驗方法》
8、GJB 548B-2005 《微電子器件試驗方法和程序》
9、MIL-STD-750F 半導(dǎo)體分立器件試驗方法和程序 方法2037
10、GJB548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 方法2011.1
11、GJB 548A-1996 《微電子器件試驗方法和程序》
銷售:出具檢測報告,提成產(chǎn)品競爭力。
研發(fā):縮短研發(fā)周期,降低研發(fā)成本。
質(zhì)量:判定原料質(zhì)量,減少生產(chǎn)風(fēng)險。
診斷:找出問題根源,改善產(chǎn)品質(zhì)量。
科研:定制完整方案,提供原始數(shù)據(jù)。
競標(biāo):報告認(rèn)可度高,提高競標(biāo)成功率。
關(guān)于鍵合強度檢驗檢測內(nèi)容就介紹到這里。百檢網(wǎng)第三方檢測機構(gòu)期待與您的合作,詳情請聯(lián)系百檢客服。
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