雙極性晶體管測試在哪做？百檢網(wǎng)第三方檢測機構可提供雙極性晶體管測試服務，工程師一對一服務，根據(jù)雙極性晶體管測試需求制定方案，安排實驗室寄樣檢測，常規(guī)檢測項目在3-15個工作日內完成并出具雙極性晶體管測試報告，歡迎咨詢。

檢測周期：3-15個工作日（特殊樣品、項目除外），可加急。

報告樣式：中英文、電子版、紙質版均可。

檢測費用：電議。

雙極性晶體管測試項目：

共發(fā)射極小信號正向電流傳輸比，共發(fā)射極短路輸入阻抗,共發(fā)射極開路反向電壓傳輸比,共發(fā)射極開路輸出導納,共基極開路輸出導納,擊穿電壓,發(fā)射極-基極擊穿電壓,發(fā)射極-基極截止電流,基極-發(fā)射極飽和壓降,正向電流傳輸比,集電極-發(fā)射極截止電流,集電極-發(fā)射極飽和壓降,集電極-基極擊穿電壓,集電極-基極截止電流,共發(fā)射極正向電流傳輸比的靜態(tài)值,發(fā)射極電流為零時的集電極－基極擊穿電壓,發(fā)射極－基極截止電流（反向電流）,基極-發(fā)射極飽和電壓,集電極電流為零時的發(fā)射極－基極擊穿電壓,集電極－發(fā)射極飽和電壓,集電極－基極截止電流（反向電流）,共發(fā)射極正向電流傳輸比（輸出電壓保持不變）（直流或脈沖法）HFE,發(fā)射極電流為零時的集電極-基極擊穿電壓V(BR)CEO,集電極-發(fā)射極截止電流（直流法）ICEO,集電極-發(fā)射極飽和電壓VCEsat,柵極漏電流IGES,集電極截止電流ICES,柵極-發(fā)射極閾值電壓VGE(th),集電極-發(fā)射極飽和電壓VCEsat,集電極-發(fā)射極電壓VCE

雙極性晶體管測試流程：

1. 樣品提供：客戶提供待檢測樣品，并擬定檢測方案;

2. 樣品接收：實驗室收到樣品后進行核查并錄入樣品信息;

3. 樣品處理：將樣品進行必要的前處理，確保檢測結果的準確性;

4. 檢測分析：利用適當?shù)奈锢怼⒒瘜W或生物學方法對樣品進行檢測，保證檢測的覆蓋率和準確度;

5. 結果報告：按照檢測方案，百檢網(wǎng)將檢測結果用簡要、準確的方式告知客戶并提供詳細的檢測報告。

雙極性晶體管測試標準：

1、GB/T 4587-1994 半導體分立器件和集成電路 第7部分 雙極性晶體管 GB/T 4587-1994

2、GB/T 4586－94 半導體器件分立器件和集成電路 第7部分：雙極型晶體管 GB/T 4586－94

3、GB/T 4587－94 半導體器件分立器件和集成電路 第7部分：雙極型晶體管 GB/T 4587－94

4、GB/T12560-1999 IEC60747-7,Ⅳ,1.9.1 GB/T4589.1-2006 半導體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范；半導體器件分立器件分規(guī)范 GB/T12560-1999 IEC60747-7,Ⅳ,1.9.1 GB/T4589.1-2006 1

5、GB/T 4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7,Ⅳ,1.9.1 半導體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范；半導體器件分立器件分規(guī)范 GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7,Ⅳ,1.9.1

6、GB/T 4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7,Ⅳ,1.9.2 半導體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范；半導體器件分立器件分規(guī)范 GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7,Ⅳ,1.9.2

7、GB/T 4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7,Ⅳ,1.9.3 半導體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范；半導體器件分立器件分規(guī)范 GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7,Ⅳ,1.9.3

8、 GB/T 29332-201 半導體器件 分立器件 第9部分：絕緣柵雙極晶體管（IGBT） GB/T 29332-2012

9、GB/T 4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7,Ⅳ,1.9.4 半導體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范；半導體器件分立器件分規(guī)范 GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7,Ⅳ,1.9.4

10、GB/T 12560-1999 IEC60747-7,Ⅳ,1.9.1 GB/T4589.1-2006 半導體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范；半導體器件分立器件分規(guī)范 GB/T12560-1999 IEC60747-7,Ⅳ,1.9.1 GB/T4589.1-2006

11、GB/T4587-1994 半導體分立器件和集成電路第7部分：雙極性晶體管 第IV章第1節(jié)9.6

12、GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7,Ⅳ,1.9.2 半導體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范；半導體器件分立器件分規(guī)范 GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7,Ⅳ,1.9.2 2

13、GB/T 4586－94 半導體器件分立器件和集成電路 第7部分：雙極型晶體管 第Ⅳ章 第2 節(jié) 2

14、GB/T 4587－94 半導體器件分立器件和集成電路 第7部分：雙極型晶體管 第Ⅳ章 第2 節(jié) 7

15、GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7,Ⅳ,1.9.1 半導體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范；半導體器件分立器件分規(guī)范 GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7,Ⅳ,1.9.1 5

16、GB/T 4587-1994 半導體分立器件和集成電路 第7部分 雙極性晶體管 第Ⅳ篇第1節(jié)第10條

17、GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7,Ⅳ,1.9.4 半導體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范；半導體器件分立器件分規(guī)范 GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7,Ⅳ,1.9.4 4

18、GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7,Ⅳ,1.9.3 半導體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范；半導體器件分立器件分規(guī)范 GB/T4589.1-2006 GB/T12560-1999 IEC60747-7,Ⅳ,1.9.3 3

雙極性晶體管測試報告有什么用？

1、對產品做及時改進，保證出廠產品的品質和安全性。

2、證明產品符合相關標準（國標、行標、企標、團標、外標等），提高產品競爭力。

3、檢測產品是否符合環(huán)保標準要求，是否具有有毒有害成分。

4、進行非標檢測，或根據(jù)現(xiàn)有標準方法進行檢測，得到準確參數(shù)用于產品研發(fā)。

關于雙極性晶體管測試檢測內容就介紹到這里。做檢測，上百檢，百檢網(wǎng)期待與您的合作。