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簡介:咨詢測微頭測試服務(wù),上百檢網(wǎng)。我們會(huì)為您安排測微頭測試工程師對(duì)接,溝通測微頭測試項(xiàng)目、標(biāo)準(zhǔn)、周期等,待方案確認(rèn)后,即可開始樣品檢測,出具測微頭測試報(bào)告真實(shí)有效,常規(guī)周期在3-15個(gè)工作日,特殊項(xiàng)目需在方案制定時(shí)詳細(xì)確認(rèn),歡迎咨詢。
發(fā)布時(shí)間:2024-06-27
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檢測費(fèi)用:電議
檢測周期:常規(guī)3-15個(gè)工作日,特殊情況除外。
報(bào)告資質(zhì):CMA、CNAS等
報(bào)告樣式:中英文、紙質(zhì)版、電子版。
刻線寬度及刻線寬度差,各種裝置,回程誤差,外觀,標(biāo)尺標(biāo)數(shù)及零位標(biāo)尺重合度,標(biāo)尺標(biāo)記,測微頭測量面及測微螺桿硬度,測量力,測量面,測量面的表面粗糙度,測量面相對(duì)測微螺桿軸線的垂直度,相互作用,示值誤差,錐面的端面到固定套管毫米刻線和半毫米刻線的距離,測力和測力變化,測微頭的回程誤差,測微頭的移動(dòng)偏差,測微頭附件,測量面平面度,計(jì)數(shù)器的讀數(shù)值與測微頭的指示值的一致性,錐面棱邊至固定套管縱刻線表面的距離,零位的正確性,全部項(xiàng)目,部分參數(shù),對(duì)零誤差,底板,最大允許誤差,標(biāo)尺,標(biāo)志和包裝,測量力和測量力變化,電子數(shù)顯裝置,重復(fù)性,鎖緊裝置
1、電話溝通、確認(rèn)需求;
2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià);
3、郵寄樣品、安排檢測;
4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋;
5、出具報(bào)告、售后服務(wù);
6、如需加急、優(yōu)先處理;
1、JB/T10033-2018《測微頭》5.4
2、JB/T10033-2018測微頭JB/T10033-2018
3、GB/T22092-2018電子數(shù)顯測微頭和深度千分尺
4、GB/T22092-2018電子數(shù)顯測微頭和深度千分尺GB/T22092-2018
5、JB/T10033-1999刻線寬度及刻線寬度差
6、JB/T10033-2018《測微頭》JB/T10033-2018
銷售:出具檢測報(bào)告,提成產(chǎn)品競爭力。
研發(fā):縮短研發(fā)周期,降低研發(fā)成本。
質(zhì)量:判定原料質(zhì)量,減少生產(chǎn)風(fēng)險(xiǎn)。
診斷:找出問題根源,改善產(chǎn)品質(zhì)量。
科研:定制完整方案,提供原始數(shù)據(jù)。
競標(biāo):報(bào)告認(rèn)可度高,提高競標(biāo)成功率。
關(guān)于測微頭測試檢測內(nèi)容就介紹到這里。如還有其他疑問,歡迎致電咨詢,我們將竭誠為您服務(wù)。
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