簡介:在找三極管試驗機構?百檢網(wǎng)為您提供三極管試驗服務,專業(yè)工程師對接確認項目、標準后制定方案,包括三極管試驗周期、報價、樣品等,確認無誤后安排寄樣檢測,三極管試驗常規(guī)周期3-15個工作日,歡迎咨詢。
發(fā)布時間:2024-06-21
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檢測樣品:紡織品、化妝品、食品、農(nóng)產(chǎn)品、絕緣工具、五金件等
報告資質:CNAS/CMA/CAL
報告周期:常規(guī)3-15個工作日,特殊樣品、檢測項目除外。
檢測費用:根據(jù)檢測項目收費,詳情請咨詢百檢網(wǎng)。
發(fā)射極-基極擊穿電壓,發(fā)射極-基極截止電流,基極-發(fā)射極飽和電壓,柵極漏泄電流,正向電流傳輸比,正向跨導,漏一源擊穿電壓,漏極截止電流,漏極電流,集電極-發(fā)射極截止電流,集電極-發(fā)射極飽和電壓,集電極-基極擊穿電壓,集電極-基極截止電流,集電極-射極擊穿電壓,靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻,發(fā)射極-基極擊穿電壓V(BR)EBO,發(fā)射極-基極截止電流(IEBO),基極-發(fā)射極飽和電壓(VBEsat),外觀和機械檢查,放大倍數(shù)(hFEL),老煉,集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR)CEO,集電極-發(fā)射極截止電流(ICEO),集電極-發(fā)射極飽和電壓(VCEsat),集電極-基極擊穿電壓V(BR)CBO,集電極-基極截止電流(ICBO),共發(fā)射極直流電流放大系數(shù),集電極-發(fā)射極擊穿電壓,放大倍數(shù),共發(fā)射極正向電流傳輸比,發(fā)射極—基極擊穿電壓,發(fā)射極—基極截止電流,基極—發(fā)射極飽和電壓,集電極—發(fā)射極擊穿電壓,集電極—發(fā)射極截止電流,集電極—發(fā)射極飽和電壓,集電極—基極擊穿電壓,集電極—基極截止電流,共發(fā)射極正向電流傳輸比h21E,發(fā)射極 –基極截止電流Iebo,發(fā)射極-基極擊穿電壓Vebo,基極-發(fā)射極飽和電壓VbeSsat,集電極 –發(fā)射極截止電流ICEO,集電極 –基極截止電流Icbo,集電極-發(fā)射極維持電壓Vceo,集電極-發(fā)射極飽和電壓Vcesat,集電極-基極擊穿電壓Vcbo,密封,恒定加速度,溫度循環(huán),電性能參數(shù),粒子碰撞噪聲檢測(PIND),高溫貯存,基極-發(fā)射極飽和電壓VBE(sat),小信號功率增益,集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR) CEO,集電極-發(fā)射極飽和電壓VCE(sat),集電極-基極截止電流ICBO,電性能參數(shù)及特性曲線,發(fā)射極電流為零時集電極-基極擊穿電壓,溫度循環(huán)(空氣-空氣),集電極-發(fā)射極維持電壓,集電極電流為零時集電極-基極擊穿電壓,高溫壽命(非工作),共發(fā)射極正向電流傳輸比h,集電極 –發(fā)射極截止電流I
1、通過網(wǎng)站聯(lián)系方式與客服進行溝通
2、確認需求后,推薦并制訂方案,隨后進行報價
3、確認方案及報價后,安排樣品郵寄至指定實驗室進行檢測
4、樣品寄送到實驗室后,等待實驗室檢測結果
5、實驗室檢測完畢后出具相應報告,如需紙質報告則安排郵寄
在辦理期間如需加急,需要及時溝通并安排加急服務
1、GJB150.1A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第1部分:通用要求
2、GB/T 4587-1994 半導體分立器件和集成電路第7部分:雙極型晶體管 GB/T 4587-1994
3、GB/T 4587-199 半導體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 GB/T 4587-1994
4、GJB128A-97 半導體分立器件試驗方法 2071
5、GJB 128A-97 半導體分立器件試驗方法 GJB128A-97
6、GJB 128A-199 半導體分立器件試驗方法 GJB128A-1997
7、GJB33A-97 半導體分立器件總規(guī)范 4.6
8、GJB128A-1997 《半導體分立器件試驗方法》 方法2071
9、GJB150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分:高溫試驗
10、GJB 128A-1997 半導體分立器件試驗方法 方法3407
11、GJB 128A-1997 《半導體分立器件試驗方法》 GJB 128A-1997
12、GB/T 4586-1994/IEC 747-8-1984 半導體器件 分立器件 第8部分:場效應晶體管 第 IV 章 2
13、GB/T 4587-1994/IEC 747-7-1988 半導體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 GB/T 4587-1994/IEC 747-7-1988
14、GB/T 4586-1994/IEC 747-8-1984 半導體器件 分立器件 第8部分:場效應晶體管 GB/T 4586-1994/IEC 747-8-1984
15、GJB128A-1997 半導體分立器件試驗方法 方法3256
16、GB/T4587-1994 《半導體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管》 Ⅳ.1.10
17、GB/T4587-94 分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 第Ⅳ章第5、第6條
18、GB/T 4587-94 分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 GB/T4587-94
19、GB/T 4587-1994 《半導體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管》 第Ⅳ章 第1節(jié)9.6
20、GB/T 4587-1994/IEC 747-7-1988 半導體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 第IV 章 第1 節(jié)10.2
1、對產(chǎn)品做及時改進,保證出廠產(chǎn)品的品質和安全性。
2、證明產(chǎn)品符合相關標準(國標、行標、企標、團標、外標等),提高產(chǎn)品競爭力。
3、檢測產(chǎn)品是否符合環(huán)保標準要求,是否具有有毒有害成分。
4、進行非標檢測,或根據(jù)現(xiàn)有標準方法進行檢測,得到準確參數(shù)用于產(chǎn)品研發(fā)。
關于三極管試驗檢測內容就介紹到這里。后續(xù)會安排對應工程師對接,百檢第三方檢測機構歡迎您的咨詢,期待與您合作。
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