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簡介:碳化硅單晶片檢測(cè)在哪做?百檢網(wǎng)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)可提供碳化硅單晶片檢測(cè)服務(wù),工程師一對(duì)一服務(wù),根據(jù)碳化硅單晶片檢測(cè)需求制定方案,安排實(shí)驗(yàn)室寄樣檢測(cè),常規(guī)檢測(cè)項(xiàng)目在3-15個(gè)工作日內(nèi)完成并出具碳化硅單晶片檢測(cè)報(bào)告,歡迎咨詢。
發(fā)布時(shí)間:2024-04-26
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碳化硅單晶片檢測(cè)在哪做?百檢網(wǎng)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)可提供碳化硅單晶片檢測(cè)服務(wù),工程師一對(duì)一服務(wù),根據(jù)碳化硅單晶片檢測(cè)需求制定方案,安排實(shí)驗(yàn)室寄樣檢測(cè),常規(guī)檢測(cè)項(xiàng)目在3-15個(gè)工作日內(nèi)完成并出具碳化硅單晶片檢測(cè)報(bào)告,歡迎咨詢。
檢測(cè)周期:常規(guī)樣品、項(xiàng)目3-15個(gè)工作日,可加急。特殊樣品、項(xiàng)目除外,如功效類檢測(cè)等。
寄樣方式:快遞或上門檢測(cè)
檢測(cè)費(fèi)用:依據(jù)項(xiàng)目、標(biāo)準(zhǔn)決定。
服務(wù)對(duì)象:企業(yè)、公司、單位、個(gè)體商戶、高校,非維權(quán)糾紛類檢測(cè)
厚度與總厚度變化,微管密度,晶型,直徑,表面粗糙度,表面質(zhì)量
1、百檢客服確認(rèn)檢測(cè)需求(樣品、項(xiàng)目、報(bào)告用途等)
2、安排對(duì)應(yīng)工程師對(duì)接服務(wù)。
3、確認(rèn)報(bào)價(jià),簽訂合同,安排寄樣檢測(cè)。
4、實(shí)驗(yàn)室接收樣品,根據(jù)需求開始檢測(cè)。
5、完成檢測(cè),出具檢測(cè)報(bào)告。
6、售后服務(wù)。
1、SJ/T 11503-2015 碳化硅單晶拋光片表面粗糙度的測(cè)試方法 SJ/T 11503-2015
2、SJ/T 11503-2015 碳化硅單晶拋光片表面粗糙度測(cè)試方法 5. 原子力顯微鏡法
3、SJ/T 11501-2015 碳化硅單晶晶型的測(cè)試方法
4、GB/T 30866-2014 碳化硅單晶片直徑測(cè)試方法
5、GB/T 30867-2014 碳化硅單晶片厚度和總厚度變化測(cè)試方法 GB/T 30867-2014
6、GB/T 31351-2014 碳化硅單晶拋光片微管密度無損檢測(cè)方法
7、SJ/T11504-2015 碳化硅單晶拋光片表面質(zhì)量的測(cè)試方法
8、GB/T 30867-2014 碳化硅單晶片厚度與總厚度變化測(cè)試方法
1、項(xiàng)目招投標(biāo):出具第三方CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告;
2、上線電商平臺(tái)入駐:質(zhì)檢報(bào)告各大電商平臺(tái)認(rèn)可;
3、用作銷售報(bào)告:出具真實(shí)有效的檢測(cè)報(bào)告,讓消費(fèi)者更放心;
4、論文及科研:提供專業(yè)的個(gè)性化檢測(cè)需求;
5、司法服務(wù):提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù);
6、工業(yè)問題診斷:驗(yàn)證工業(yè)生產(chǎn)環(huán)節(jié)問題排查和修正;
關(guān)于碳化硅單晶片檢測(cè)檢測(cè)內(nèi)容就介紹到這里。百檢網(wǎng)第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)期待與您的合作,詳情請(qǐng)聯(lián)系百檢客服。
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