簡介:咨詢LED器件測試服務(wù),上百檢網(wǎng)。我們會為您安排LED器件測試工程師對接,溝通LED器件測試項目、標準、周期等,待方案確認后,即可開始樣品檢測,出具LED器件測試報告真實有效,常規(guī)周期在3-15個工作日,特殊項目需在方案制定時詳細確認,歡迎咨詢。
發(fā)布時間:2024-04-09
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咨詢LED器件測試服務(wù),上百檢網(wǎng)。我們會為您安排LED器件測試工程師對接,溝通LED器件測試項目、標準、周期等,待方案確認后,即可開始樣品檢測,出具LED器件測試報告真實有效,常規(guī)周期在3-15個工作日,特殊項目需在方案制定時詳細確認,歡迎咨詢。
檢測周期:常規(guī)3-15個工作日,特殊樣品除外,在可行范圍內(nèi)可安排加急。
報告樣式:紙質(zhì)、電子版、中英文均可。
光譜,光通量,平均光強,電性能,低溫試驗,恒定濕熱試驗,溫度變化,濕熱循環(huán),鹽霧,高溫試驗
1. 樣品提供:客戶提供待檢測樣品,并擬定檢測方案;
2. 樣品接收:實驗室收到樣品后進行核查并錄入樣品信息;
3. 樣品處理:將樣品進行必要的前處理,確保檢測結(jié)果的準確性;
4. 檢測分析:利用適當?shù)奈锢?、化學(xué)或生物學(xué)方法對樣品進行檢測,保證檢測的覆蓋率和準確度;
5. 結(jié)果報告:按照檢測方案,百檢網(wǎng)將檢測結(jié)果用簡要、準確的方式告知客戶并提供詳細的檢測報告。
1、Kb: 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗鹽霧,交變(氯化鈉溶液) GB/T 2423.18-2012IEC 60068-2-52:2017 EN 60068-2-52:2018
2、GB/T 2423.1-2008 IEC 60068-2-1:2007 EN 60068-2-1:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫 GB/T 2423.1-2008 IEC 60068-2-1:2007 EN 60068-2-1:2007
3、JESD 22-A108F:2017 溫度、偏置、工作壽命 JESD22-A108F:2017
4、 JEITA ED- 4701/200A:2013 半導(dǎo)體設(shè)備的環(huán)境耐受性測試方法(壽命試驗II) JEITA ED-4701/200A:2013
5、MIL-STD-202H 2015 電子和電子元器件部件測試方法標準 MIL-STD-202-107
6、 JEITA ED- 4701/ 200A:2013 半導(dǎo)體設(shè)備的環(huán)境耐受性測試方法(壽命試驗II) JEITA ED-4701/ 200A:2013
7、JESD22-A108F-2017 溫度、偏置、工作壽命 4.2.3.2
8、JEITA ED-4701/200A :2013 半導(dǎo)體設(shè)備的環(huán)境耐受性測試方法(壽命試驗II) 附錄202A
9、CIE 127-2007 LED測量方法 CIE 127-2007
10、GB/T 2423.2-2008 IEC 60068-2-2:2007 EN 60068-2-2:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫 GB/T 2423.2-2008 IEC 60068-2-2:2007 EN 60068-2-2:2007
11、JESD22-A108F:2017 溫度、偏置、工作壽命 4.2.3
12、GB/T 2423.18-2012IEC 60068-2-52:2017 EN 60068-2-52:2018 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液) GB/T 2423.18-2012IEC 60068-2-52:2017 EN 60068-2-52:2018 9
13、CIE 127-2007 LED測量方法 7
14、GB/T 2423.22-2012 IEC 60068-2-14:2009 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化 GB/T 2423.22-2012 IEC 60068-2-14:2009
15、GB/T 2423.34-2012 IEC 60068-2-38:2009 EN 60068-2-38:2009 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗 GB/T 2423.34-2012 IEC 60068-2-38:2009 EN 60068-2-38:2009
16、 JEITA ED- 4701/100A:2013 半導(dǎo)體設(shè)備的環(huán)境耐受性測試方法(壽命試驗I) JEITA ED-4701/100A:2013
17、JEITA ED-4701/ 200A:2013 半導(dǎo)體設(shè)備的環(huán)境耐受性測試方法(壽命試驗II) 附件 203A
18、GB/T 2423.1-2008 IEC 60068-2-1:2007 EN 60068-2-1:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫 GB/T 2423.1-2008 IEC 60068-2-1:2007 EN 60068-2-1:2007 6
19、GB/T2423.17-2008 IEC 60068-2-11:1981 EN 60068-2-11:1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ka:鹽霧 GB/T2423.17-2008 IEC 60068-2-11:1981 EN 60068-2-11:1999 6
20、GB/T 2423.3-2016IEC 60068-2-78:2012 EN 60068-2-78:2013 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗 GB/T 2423.3-2016IEC 60068-2-78:2012 EN 60068-2-78:2013
產(chǎn)品檢測報告主要反映了產(chǎn)品各項指標是否達到標準中的合格要求,能夠為企業(yè)產(chǎn)品研發(fā)、投標、電商平臺上架、商超入駐、學(xué)??蒲刑峁┛陀^的參考。
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