咨詢半導(dǎo)體光電模塊測試服務(wù)，上百檢網(wǎng)。我們會為您安排半導(dǎo)體光電模塊測試工程師對接，溝通半導(dǎo)體光電模塊測試項(xiàng)目、標(biāo)準(zhǔn)、周期等，待方案確認(rèn)后，即可開始樣品檢測，出具半導(dǎo)體光電模塊測試報(bào)告真實(shí)有效，常規(guī)周期在3-15個(gè)工作日，特殊項(xiàng)目需在方案制定時(shí)詳細(xì)確認(rèn)，歡迎咨詢。

檢測周期：常規(guī)3-15個(gè)工作日，特殊樣品除外，在可行范圍內(nèi)可安排加急。

報(bào)告樣式：紙質(zhì)、電子版、中英文均可。

半導(dǎo)體光電模塊測試項(xiàng)目：

X射線檢查,內(nèi)部氣體成份分析,內(nèi)部目檢,剪切強(qiáng)度,外部目檢,密封,掃描電子顯微鏡(SEM)檢查,粒子碰撞噪聲檢測(PIND),鍵合強(qiáng)度,掃描電子顯微鏡（SEM）檢查,尾纖、纜張力,峰值發(fā)射波長λp,正向電壓VF,輻射光譜寬度Δλ,輸出光功率Ф,閾值電流Ith,X射線檢查(必要時(shí)）

半導(dǎo)體光電模塊測試流程：

1、電話溝通、確認(rèn)需求;

2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià);

3、郵寄樣品、安排檢測;

4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋;

5、出具報(bào)告、售后服務(wù);

6、如需加急、優(yōu)先處理;

半導(dǎo)體光電模塊測試標(biāo)準(zhǔn)：

1、GJB 4027A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 1202

2、SJ 20642-1997 半導(dǎo)體光電模塊總規(guī)范 SJ 20642-1997

3、GJB4027A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 2.3

4、SJ/T 2749-2016 半導(dǎo)體激光二極管測試方法 5.11

5、SJ 20642-1997 半導(dǎo)體光電模塊總規(guī)范 4.8

6、GJB4027A-2006，2.3 軍用電子元器件破壞性物理分析方法

7、GJB915A-1997 尾纖、纜張力

8、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法 1018.1

9、GJB 915A-1997 纖維光學(xué)試驗(yàn)方法

半導(dǎo)體光電模塊測試報(bào)告有什么用？

銷售：出具檢測報(bào)告，提成產(chǎn)品競爭力。

研發(fā)：縮短研發(fā)周期，降低研發(fā)成本。

質(zhì)量：判定原料質(zhì)量，減少生產(chǎn)風(fēng)險(xiǎn)。

診斷：找出問題根源，改善產(chǎn)品質(zhì)量。

科研：定制完整方案，提供原始數(shù)據(jù)。

競標(biāo)：報(bào)告認(rèn)可度高，提高競標(biāo)成功率。

關(guān)于半導(dǎo)體光電模塊測試檢測內(nèi)容就介紹到這里。做檢測，上百檢，百檢網(wǎng)期待與您的合作。