咨詢光電子器件測試服務(wù)，上百檢網(wǎng)。我們會為您安排光電子器件測試工程師對接，溝通光電子器件測試項目、標(biāo)準(zhǔn)、周期等，待方案確認(rèn)后，即可開始樣品檢測，出具光電子器件測試報告真實有效，常規(guī)周期在3-15個工作日，特殊項目需在方案制定時詳細(xì)確認(rèn)，歡迎咨詢。

檢測周期：常規(guī)樣品、項目3-15個工作日，可加急。特殊樣品、項目除外，如功效類檢測等。

寄樣方式：快遞或上門檢測

檢測費用：依據(jù)項目、標(biāo)準(zhǔn)決定。

服務(wù)對象：企業(yè)、公司、單位、個體商戶、高校，非維權(quán)糾紛類檢測

光電子器件測試項目：

關(guān)斷時間,開通時間,電流傳輸比,集電極-發(fā)射極暗電流,集電極-發(fā)射極飽和電壓,集電極-基極暗電流,PIN光電二極管的噪聲,S11參數(shù),不帶尾纖的激光二極管發(fā)射源的高度、寬度和像散,低氣壓,倍增因子,光發(fā)射器件的半強度角和角偏差,光強分布和光束角,光照下的集電極電流,光電流,光譜線寬,光譜輻射帶寬,光輻射帶寬，頻譜輻射帶寬,光通維持率,光通量/光效,光通量,光通量結(jié)溫特性曲線,其它電和光,其它電和光特性,功率,半強度角,參考熱阻,反向電流和反向電壓,反向電流,發(fā)光二極管發(fā)光強度,發(fā)光強度,發(fā)射-集電極擊穿電壓,發(fā)射極-基極擊穿電壓,發(fā)射源尺寸,可焊性,噪聲電流,噪聲等效功率,外形尺寸,外部目檢,密封,小信號截止頻率,尺寸,局部放電,峰值發(fā)射波長,平均壽命,平均顏色特性,開關(guān)時間,引出端強度,總電容,恒定加速度,截止頻率,振動,暗電流,最大允許電流/電壓,最高允許結(jié)溫,機械沖擊,標(biāo)志,標(biāo)志耐久性,正向電壓,正向電流傳輸比的靜態(tài)值,正向電流,浪涌隔離電壓,溫度變化,溫度快速變化,濕熱循環(huán),電和光極限值的驗證,電和光特性,電容（光敏二極管）,電耐久性,相對噪聲強度,穩(wěn)態(tài)濕熱,等效的加速應(yīng)力試驗,紅外發(fā)射二極管的輻射強度,縱模數(shù),縱模數(shù)目,結(jié)到管殼的熱阻,耐焊接熱,角偏差,象散,跟蹤誤差,載流子與噪聲比,輻射功率或正向電流,輻射功率,輻射圖、半強度角,輻射強度,輸入-輸出電容,輸入和輸出之間的隔離電阻,過剩噪聲因子,過剩噪聲系數(shù),連續(xù)或重復(fù)峰值隔離電壓,閾值電流,隔離試驗,集電極-發(fā)射極維持電壓,集電極-基極擊穿電壓,集電極-基極截止電流,靜電耐受性,頻譜輻射帶寬,顏色均勻性,顏色漂移,高溫貯存,集電極-發(fā)射極截止電流,輸入-輸出間隔離電阻,光耦合器的開關(guān)時間

光電子器件測試流程：

1、確認(rèn)樣品和需求

2、制定方案

3、報價

4、雙方確定，簽訂保密協(xié)議，開始實驗

5、3-15個工作日（特殊樣品除外）完成實驗

6、出具檢測報告，后期服務(wù)。

光電子器件測試標(biāo)準(zhǔn)：

1、GB/T 15651.3-2003 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 第5-3部分 光電子器件測試方法 5.7

2、GB/T12565-1990，附錄D表D2光耦合器 半導(dǎo)體器件光電子器件分規(guī)范

3、GB/T 15651-1995 半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路 第5部分:光電子器件 第IV章 2.4

4、GB/T15651-1995,IEC747-5:1992，第IV章3.7 半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路第5部分：光電子器件

5、GB/T12565-1990，B1 半導(dǎo)體器件光電子器件分規(guī)范

6、GB/T 12565-1990 半導(dǎo)體器件光電子器件分規(guī)范 表3 C組 C10

7、GB/T 15651.3-2003 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 第5-3部分 光電子器件測試方法 GB/T 15651.3-2003

8、GB/T15651-1995,IEC747-5:1992，第IV章3.2 半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路第5部分：光電子器件

9、GB/T15651-1995,IEC747-5:1992，第IV章3.1 半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路第5部分：光電子器件

10、GB/T12565-1990，附錄D表D1發(fā)光二極管 半導(dǎo)體器件光電子器件分規(guī)范

11、GB/T 15651-1995, IEC 747-5:1992 半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路第5部分：光電子器件 第IV章 3.1

12、GB/T15651-1995,IEC747-5:1992，第IV章3.4 半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路第5部分：光電子器件

13、GB/T15651-1995,IEC747-5:1992，第IV章3.3 半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路第5部分：光電子器件

14、GB/T 12565-1990 半導(dǎo)體器件光電子器件分規(guī)范 GB/T 12565-1990

15、QB/T 4057-2010 普通照明用發(fā)光二極管 性能要求 表 5

16、GB/T 12565-199 半導(dǎo)體器件 光電子器件分規(guī)范(可供認(rèn)證用) GB/T 12565-1990

17、GB/T12565-1990，表1A1 半導(dǎo)體器件光電子器件分規(guī)范

光電子器件測試報告有什么用？

產(chǎn)品檢測報告主要反映了產(chǎn)品各項指標(biāo)是否達到標(biāo)準(zhǔn)中的合格要求，能夠為企業(yè)產(chǎn)品研發(fā)、投標(biāo)、電商平臺上架、商超入駐、學(xué)校科研提供客觀的參考。

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