咨詢半導體發(fā)光二極管芯片檢測服務，上百檢網(wǎng)。我們會為您安排半導體發(fā)光二極管芯片檢測工程師對接，溝通半導體發(fā)光二極管芯片檢測項目、標準、周期等，待方案確認后，即可開始樣品檢測，出具半導體發(fā)光二極管芯片檢測報告真實有效，常規(guī)周期在3-15個工作日，特殊項目需在方案制定時詳細確認，歡迎咨詢。

報告資質：CNAS、CMA、CAL

報告樣式：中英文均可

報告周期：常規(guī)3-15個工作日，特殊樣品項目除外。

半導體發(fā)光二極管芯片檢測項目：

主波長和刺激純度,人體模式的經(jīng)放電敏感性,光通量和光通量效率,反向電壓,峰值發(fā)射波長、光譜寬帶、相對光譜功率分布和重心波長,機器模式的靜放電敏感性,結溫,色差,輻射通量和輻射效率,色品坐標,反向電流,正向電壓,開關時間,人體模式的靜電放電敏感性測試,機器模式的靜電放電敏感性測試,發(fā)光強度,峰值發(fā)射波長、光譜帶寬、相對光譜功率分布和重心波長,芯片電氣連接〔顏色特性測定方法〕,總電容,人體模式的靜放電敏感性,主波長,光通量或光功率,電耐久性,靜電敏感電壓,標志,材料、結構和工藝,光、電、色度及熱特性,靜電放電敏感度試驗,環(huán)境適應性,外觀質量,靜電放電敏感度,光通量,外形尺寸

半導體發(fā)光二極管芯片檢測流程：

1、百檢客服確認檢測需求（樣品、項目、報告用途等）

2、安排對應工程師對接服務。

3、確認報價，簽訂合同，安排寄樣檢測。

4、實驗室接收樣品，根據(jù)需求開始檢測。

5、完成檢測，出具檢測報告。

6、售后服務。

半導體發(fā)光二極管芯片檢測標準：

1、SJ/T 11398-2009 功率半導體發(fā)光二極管芯片技術規(guī)范

2、SJ/T11399-2009 半導體發(fā)光二極管芯片測試方法 6.4

3、SJ/T11398-2009 功率半導體發(fā)光二極管芯片技術規(guī)范 B組B4分組

4、SJ/T 11399-2009 半導體發(fā)光二極管芯片測試方法 SJ/T 11399-2009

5、GB/T 4937-1995

6、SJ/T 11399-2009 半導體發(fā)光二極管芯片測試方法 8.3

半導體發(fā)光二極管芯片檢測報告有什么用？

1、對產品做及時改進，保證出廠產品的品質和安全性。

2、證明產品符合相關標準（國標、行標、企標、團標、外標等），提高產品競爭力。

3、檢測產品是否符合環(huán)保標準要求，是否具有有毒有害成分。

4、進行非標檢測，或根據(jù)現(xiàn)有標準方法進行檢測，得到準確參數(shù)用于產品研發(fā)。

關于半導體發(fā)光二極管芯片檢測檢測內容就介紹到這里。如還有其他疑問，歡迎致電咨詢，我們將竭誠為您服務。