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發(fā)布時(shí)間:2023-12-25
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檢測(cè)周期:常規(guī)3-15個(gè)工作日,特殊樣品除外,在可行范圍內(nèi)可安排加急。
報(bào)告樣式:紙質(zhì)、電子版、中英文均可。
輸入低電平電流,輸入電流,輸入鉗位電壓,輸入高電平電流,輸出低電平電壓,輸出低電平電源電流,輸出短路電流,輸出高電平電壓,輸出高電平電源電流,輸出高阻態(tài)時(shí)低電平電流,輸出高阻態(tài)時(shí)高電平電流,輸出低電平電壓VOL,輸出短路電流IOS,輸出高電平電壓VOH,功能測(cè)試,正向閾值電壓下的輸入電流,負(fù)向閾值電壓下的輸入電流,輸出低電平時(shí)電源電流,輸出高電平時(shí)電源電流,傳輸時(shí)間,功能,動(dòng)態(tài)條件下的總電源電流,延遲時(shí)間和轉(zhuǎn)換時(shí)間,輸入閾值電壓和滯后電壓,輸出高阻態(tài)電流,電源電流ICC,輸入低電平電流IIL,輸入鉗位電壓 VIK,輸入高電平電流IIH,輸出低電平時(shí)電源電流 ICCL,輸出低電平電壓VOL,輸出由低電平到高電平傳輸延遲時(shí)間tPLH,輸出由低電平到高阻態(tài)傳輸延遲時(shí)間tPLZ,輸出由高電平到低電平傳輸延遲時(shí)間tPHL,輸出由高電平到高阻態(tài)傳輸延遲時(shí)間tPHZ,輸出由高阻態(tài)到低電平傳輸延遲時(shí)間tPZL,輸出由高阻態(tài)到高電平傳輸延遲時(shí)間tPZH,輸出高電平時(shí)電源電流ICCH,輸出高電平電壓VOH,電源電流,輸出低電平,輸出高電平,輸入鉗位電壓 VIK,輸入高電平電流IIH,輸入低電平電流IIL,電源電流ICC,輸出高電平時(shí)電源電流ICCH,輸出低電平時(shí)電源電流 ICCL,靜態(tài)條件下的電源電流IDD,輸入鉗位電壓VIK,輸出短路電流IOS,輸出高阻態(tài)電流IOZ,靜態(tài)條件下的電源電流ICC,輸出高電平電壓和輸出低電平電壓,輸入高電平電流和輸入低電平電流,靜態(tài)條件下的電源電流,輸入電流II,輸出低電平電源電流ICCL,輸出高電平電源電流ICCH,功能測(cè)試(靜態(tài)測(cè)試、動(dòng)態(tài)測(cè)試),延遲時(shí)間,輸出高阻態(tài)時(shí)低電平電流IOZL,輸出高阻態(tài)時(shí)高電平電流IOZH,正向閾值電壓下的輸入電流IT+,負(fù)向閾值電壓下的輸入電流IT-,輸出低電平時(shí)電源電流ICCL,輸入低電平電壓,輸入高電平電壓
1、電話溝通、確認(rèn)需求;
2、推薦方案、確認(rèn)報(bào)價(jià);
3、郵寄樣品、安排檢測(cè);
4、進(jìn)度跟蹤、結(jié)果反饋;
5、出具報(bào)告、售后服務(wù);
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1、SJ/T10735-1996 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測(cè)試方法的基本原理 第2.25條
2、GJB548B--2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序
3、GB/T 17574-1998 半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路 GB/T 17574-1998
4、GB/T 17574-1998 半導(dǎo)體集成電路 第2部分 數(shù)字集成電路 第IV篇第3節(jié)第4.1.1條
5、SJ/T 10735-1996 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T 10735-1996
6、GB/T17574-1998 半導(dǎo)體器件集成電路 第2部分:數(shù)字集成電路第IV篇 方法38
7、SJ/T 10735-1996 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測(cè)試方法
8、GB/T17574-1998 半導(dǎo)體器件集成電路第2部分:數(shù)字集成電路 第IV篇第2節(jié)1
1、項(xiàng)目招投標(biāo):出具第三方CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告;
2、上線電商平臺(tái)入駐:質(zhì)檢報(bào)告各大電商平臺(tái)認(rèn)可;
3、用作銷售報(bào)告:出具真實(shí)有效的檢測(cè)報(bào)告,讓消費(fèi)者更放心;
4、論文及科研:提供專業(yè)的個(gè)性化檢測(cè)需求;
5、司法服務(wù):提供科學(xué)、公正、準(zhǔn)確的檢測(cè)數(shù)據(jù);
6、工業(yè)問題診斷:驗(yàn)證工業(yè)生產(chǎn)環(huán)節(jié)問題排查和修正;
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