咨詢硅單晶試驗(yàn)服務(wù)，上百檢網(wǎng)。我們會(huì)為您安排硅單晶試驗(yàn)工程師對(duì)接，溝通硅單晶試驗(yàn)項(xiàng)目、標(biāo)準(zhǔn)、周期等，待方案確認(rèn)后，即可開(kāi)始樣品檢測(cè)，出具硅單晶試驗(yàn)報(bào)告真實(shí)有效，常規(guī)周期在3-15個(gè)工作日，特殊項(xiàng)目需在方案制定時(shí)詳細(xì)確認(rèn)，歡迎咨詢。

檢測(cè)費(fèi)用：電議

檢測(cè)周期：常規(guī)3-15個(gè)工作日，特殊情況除外。

報(bào)告資質(zhì)：CMA、CNAS等

報(bào)告樣式：中英文、紙質(zhì)版、電子版。

硅單晶試驗(yàn)項(xiàng)目：

少數(shù)載流子壽命,氧含量,表面金屬,碳含量,晶體完整性,直徑,晶向及晶向偏離度,徑向電阻率變化,電阻率,導(dǎo)電類型,晶向,直徑及允許誤差,彎曲度,翹曲度,氧化誘生缺陷,表面質(zhì)量,厚度和總厚度變化,厚度與總厚度變化,微管密度,晶型,表面粗糙度,晶向及晶向離度,硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片檢定校準(zhǔn),主參考面晶向

硅單晶試驗(yàn)流程：

1、致電131-4818-0553咨詢百檢客服，確認(rèn)樣品及需求。

2、客服安排工程師對(duì)接，根據(jù)需求制定檢測(cè)方案。

3、確認(rèn)方案、報(bào)價(jià)后簽訂合同，安排寄樣檢測(cè)。

4、實(shí)驗(yàn)室根據(jù)需求，對(duì)樣品開(kāi)展檢測(cè)工作。

5、檢測(cè)結(jié)束，出具樣品檢測(cè)報(bào)告。

6、如需加急請(qǐng)?zhí)崆芭c工程師或客服進(jìn)行溝通。

硅單晶試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

1、GB/T 12965-2005 《硅單晶切割片和研磨片》

2、GB/T 1554-2009 硅晶體完整性化學(xué)擇優(yōu)腐蝕檢驗(yàn)方法

3、SJ/T 11503-2015 碳化硅單晶拋光片表面粗糙度測(cè)試方法 5. 原子力顯微鏡法

4、GB/T 30866-2014 碳化硅單晶片直徑測(cè)試方法

5、GB/T 1551-2009 硅單晶電阻率測(cè)定方法

6、GB/T 25076-2018 太陽(yáng)電池用硅單晶 6.2

7、GB/T 30867-2014 碳化硅單晶片厚度和總厚度變化測(cè)試方法 GB/T 30867-2014

8、SEMI PV43-0113 太陽(yáng)能電池用硅材料中氧含量的測(cè)試 惰性氣體熔融紅外法

9、JJF 1760 硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片校準(zhǔn)規(guī)范

10、GB/T12962-2015 硅單晶

11、GB/T 14140-2009 硅片直徑測(cè)量方法

12、GB/T12965-2018 硅單晶切割片和研磨片

13、GB/T 1550-2018 非本征半導(dǎo)體材料導(dǎo)電類型測(cè)試方法

14、SJ/T 11503-2015 碳化硅單晶拋光片表面粗糙度的測(cè)試方法 SJ/T 11503-2015

15、GB/T 31351-2014 碳化硅單晶拋光片微管密度無(wú)損檢測(cè)方法

16、GB/T 12964-2003 直徑

17、GB/T12964-2018 硅單晶拋光片

18、SJ/T11504-2015 碳化硅單晶拋光片表面質(zhì)量的測(cè)試方法

19、GB/T 12962-2015 硅單晶

20、GB/T 12965-2018 硅單晶切割片和研磨片

硅單晶試驗(yàn)報(bào)告有什么用？

1、公司內(nèi)部產(chǎn)品研發(fā)使用。

2、改善產(chǎn)品質(zhì)量。

3、工業(yè)問(wèn)題診斷。

4、銷售使用（商超、電商、投標(biāo)等）。

5、高?？蒲姓撐臄?shù)據(jù)使用。

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