碳化硅檢測(cè)哪里可以做?檢測(cè)項(xiàng)目有哪些?檢測(cè)報(bào)告辦理費(fèi)用是多少?百檢檢測(cè)中心擁有多年的碳化硅檢測(cè)的技術(shù)經(jīng)驗(yàn)，可根據(jù)客戶的檢測(cè)要求制定科學(xué)的測(cè)試方法，并提供嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臏y(cè)試報(bào)告，幫助客戶了解產(chǎn)品的技術(shù)參數(shù)。

　　檢測(cè)項(xiàng)目

　　密度檢測(cè)、碳含量檢測(cè)、硅含量檢測(cè)、熔點(diǎn)檢測(cè)、折射率檢測(cè)、相對(duì)介電常數(shù)檢測(cè)、禁帶寬度檢測(cè)、電子遷移率檢測(cè)等。

　　適用范圍

　　黑碳化硅、綠碳化硅等。

　　相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

　　GB/T 39144-2020 氮化鎵材料中鎂含量的測(cè)定 二次離子質(zhì)譜法

　　GB/T 37466-2019 氮化鎵激光剝離設(shè)備

　　GB/T 37053-2018 氮化鎵外延片及襯底片通用規(guī)范

　　GB/T 36705-2018 氮化鎵襯底片載流子濃度的測(cè)試 拉曼光譜法

　　GB/T 32188-2015 氮化鎵單晶襯底片x射線雙晶搖擺曲線半高寬測(cè)試方法

　　GB/T 30854-2014 LED發(fā)光用氮化鎵基外延片

　　GB/T 32282-2015 氮化鎵單晶位錯(cuò)密度的測(cè)量 陰極熒光顯微鏡法

　　GB/T 32189-2015 氮化鎵單晶襯底表面粗糙度的原子力顯微鏡檢驗(yàn)法

　　SJ/T 11396-2009 氮化鎵基發(fā)光二極管藍(lán)寶石襯底片

　　相關(guān)介紹

　　碳化硅二極管主要為肖特基二極管。第一款商用碳化硅肖特基一極管十多年前就已推出。從那時(shí)起，它就開始進(jìn)入電源系統(tǒng)。二極管已經(jīng)升級(jí)為碳化硅開關(guān)，如JFET，BJT和MOSFET.U前市場(chǎng)上已經(jīng)可以提供擊穿電壓為600-1700 v、且額定電流為1 A-60 A的碳化硅開關(guān)。

　　檢測(cè)報(bào)告注意事項(xiàng)

　　1、報(bào)告無(wú)“研究測(cè)試專用章”或公章無(wú)效，報(bào)告無(wú)防偽二維碼無(wú)效;

　　2、復(fù)制報(bào)告未重新加蓋“研究測(cè)試專用章”或公章無(wú)效;

　　3、報(bào)告無(wú)主檢、審核、批準(zhǔn)人簽字無(wú)效;

　　4、報(bào)告涂改無(wú)效;

　　5、對(duì)檢測(cè)報(bào)告若有異議，應(yīng)于收到報(bào)告之日起十五日內(nèi)提出，逾期不予受理;